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          晶体上板测试波形不稳

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          原因分析1:

          主要是由于目前节能大趋势的影响下,板子整体的输入功率会越来越低。

          而晶振的起振是由于电路中的噪音引起的,随着谐振的增加, 逐渐达到稳定的石英晶体频率和一定的幅度.称之为谐振(共振),噪音就是杂乱无章的振荡频率,晶体频率是稳定的频率,经过一定时间,晶体的频率会从许多频率中脱影而出,从而振荡器的频率稳定在晶体的频率,因此起振功率小会,造成晶体振荡频率无法从一堆的噪音中显示出来,所以造成此现象。

          解决的办法,一是对电路反馈电路进行调整,提高负阻值,通常这种方法更容易实现,只需要调整Cd,Cg的 电容值就可以很容易达成。为保证电路工作正常,建议在进行电路设计时负电阻在石英谐振器电阻的10倍左右。二。石英晶体内部测试功率从0.01UW开始测试,以保证符合低功率的要求 .

          原因分析2:

          主要是随着起振过程中,IC温度逐渐上升,带动整体板子的温度也同步上升,在板子上对温度敏感的元器件除了石英晶体,还有电容,电感,电阻等相关的电子元器件,因此可能为这些元器件随着温度上升后发生改变,导致杂散电容CS的变化,从而抓不到主频。

          解决的办法,石英晶体具有温度特性曲线一般的温度范围为-20~70度或-40~85度大范围要求(特殊温度要求依料号定义),基本要求不能超过频率范围值,而且出货及进料均会做TC测试要求。而且温度特性与设计有关。

          所以只要单体测试晶体就可以知道是否是晶体引起的,还是其他元器件引起。

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